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反射膜厚儀F20系列

反射膜厚儀/測厚儀/F20系列 世界上暢銷(xiāo)的臺式薄膜厚度測量系統 只需按下一個(gè)按鈕,您在不到一秒鐘的同時(shí)測量厚度和折射率。設置同樣簡(jiǎn)單, 只需插上設備到您運行Windows?系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬(wàn)的應用被使用. 事實(shí)上,我們每天從我們的客戶(hù)學(xué)習更多的應用.選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長(cháng)范圍)應

  • 品牌:Filmetrics
  • 型號:F20系列

反射膜厚儀/測厚儀/F20系列 

暢銷(xiāo)的臺式薄膜厚度測量系統

 

只需按下一個(gè)按鈕,您在不到一秒鐘的同時(shí)測量厚度和折射率。設置同樣簡(jiǎn)單, 只需插上設備到您運行Windows?系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬(wàn)的應用被使用. 事實(shí)上,我們每天從我們的客戶(hù)學(xué)習更多的應用.

選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長(cháng)范圍)應用于非晶態(tài)多晶硅,CMP,電介質(zhì),玻璃和塑料厚度,硬涂層厚度,集成電路故障分析,,銦錫氧化物與透明導電氧化物,醫療設備,金屬厚度測量,有機發(fā)光顯示器,眼科設備涂層,有機保焊劑/銅表面處理,聚對二甲苯涂層,光刻膠,多孔硅,制程薄膜,折射率和消光系數,硅晶圓薄膜,太陽(yáng)光伏,半導體教學(xué)實(shí)驗室,卷式涂層


Filmetrics F20*是監測薄膜沉積的有效工具,可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,實(shí)時(shí)監控長(cháng)晶速度,實(shí)時(shí)測量膜厚、n 、k 值以及半導體和絕緣體涂層的均勻性??杉友b三個(gè)探頭,同時(shí)測量三個(gè)樣品,有三種不同波長(cháng)選擇( 波長(cháng)范圍從可見(jiàn)光380nm 至近紅外1700nm); 

主要特點(diǎn):

*測量精度高,優(yōu)于1% ; 
*測量速度快,幾秒鐘內可完成測量; 
*整套設備可放置在沉積室外; 
*操作簡(jiǎn)單,使用方便; 
*價(jià)格便宜

 

應用領(lǐng)域:

*分子束外延MBE; 
*金屬有機物化學(xué)氣相沉積MOCVD; 
*材料研究; 
*光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片

額外的好處:

· 每臺系統內建超過(guò)130種材料庫, 隨著(zhù)不同應用更超過(guò)數百種

· 應用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)

· 網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))

· 硬件升級計劃

Model

Thickness Range*

Wavelength Range

F20

15nm - 70μm

380-1050nm

F20-EXR

15nm - 250μm

380-1700nm

F20-NIR

100nm - 250μm

950-1700nm

F20-UV

1nm - 40μm

190-1100nm

F20-UVX

1nm - 250μm

190-1700nm

F20-XT

0.2μm - 450μm

1440-1690nm

F3-sX 系列

10μm - 3mm

960-1580nm


型號厚度范圍*波長(cháng)范圍
F2015nm - 70μm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250μm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250μm950-1700nm
F20-UV1nm - 40μm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250μm190-1700nm
F20-XT0.2μm - 450μm1440-1690nm
F3-sX 系列10μm - 3mm960-1580nm
*取決于薄膜種類(lèi)

厚度測量范圍*

1nm
10nm
100nm
1μm
10μm
100μm
1mm
10mm

1
F20-UV
F20-UVX
F20
F20-EXR
F20-NIR
F20-XT
F3-sX 系列



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