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NaioAFM原子力顯微鏡

Nanosurf NaioAFM產(chǎn)品主要特點(diǎn):緊湊、簡(jiǎn)便、具性?xún)r(jià)比集科研、教學(xué)演示等多種功能于一體

  • 品牌:瑞士Nanosurf
  • 型號:NaioAFM

Nanosurf NaioAFM 型原子力顯微鏡

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小樣品或納米教學(xué)領(lǐng)域的領(lǐng)先優(yōu)質(zhì)的微型原子力顯微鏡

● 一體化的即插即用的微型原子力顯微鏡(AFM)
● 使用簡(jiǎn)單,眾所周知
● 所有的標準操作模式都可用


NaioAFM 是納米教學(xué)和小樣品基礎研究的理想原子力顯微鏡。 一體化的微型NaioAFM原子力顯微鏡提供了優(yōu)質(zhì)可靠的性能卻操作方便,價(jià)格親民,結構小巧,適合于任何人和任何場(chǎng)合。


幾分鐘內就可以開(kāi)始測量

使用NaioAFM原子力顯微鏡, 僅需插上電源和USB線(xiàn),啟動(dòng)界面友好的軟件,幾分鐘內就可以開(kāi)始工作,省掉了儀器設置的時(shí)間和麻煩,觀(guān)看我們的OVERVIEW 視頻你就可以知道。 因為NaioAFM帶有懸臂校準芯片,探針更換也變得更加簡(jiǎn)單,繁瑣的激光調節也不再需要。 觀(guān)看懸臂更換視頻你就可以發(fā)現換針是如此的方便。


NaioAFM 成像模式

以下描述為儀器所具備的所有模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽宣傳冊或直接聯(lián)系我們。


●標準成像模式

靜態(tài)力模式

動(dòng)態(tài)力模式(輕敲模式)

相位成像模式


●磁性能

磁力顯微


●電性能

導電探針 AFM (C-AFM)

靜電力顯微 (EFM)

掃描擴散電阻顯微(SSRM)


●機械特性

力譜

力調制

剛度和模量

附著(zhù)力

力映射


●其它測量模式

光刻和納米加工


NaioAFM的應用示例

聚合物混合物的 AFM 相位成像

這是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉積在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)組成。PS 在 PB 矩陣中形成孤島。

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用AFM進(jìn)行ePTFE膜表面形貌分析

ePTFE是膨脹聚氟乙烯的縮寫(xiě),也稱(chēng)為T(mén)eflon。它的機械和醫學(xué)特性很大程度上取決于Teflon是如何膨脹的(單軸或雙軸)以及由此產(chǎn)生的ePTFE網(wǎng)絡(luò )結構。 ePTFE由于其在人體內的惰性特性,常被用作植入材料。網(wǎng)狀結構中的空隙鼓勵軟組織生長(cháng)到這樣的植入體中,這有助于快速地保持植入體的位置。聚四氟乙烯有許多不同的膨脹方式,都會(huì )導致不同的網(wǎng)絡(luò )結構。因此,至關(guān)重要的是要驗證在膨脹過(guò)程之后是否獲得了所需的ePTFE結構。


1584345943926402.jpg圖片關(guān)鍵詞


在此應用中,我們使用AFM對ePTFE膜進(jìn)行了分析。所記錄的形貌圖像清楚地顯示了樣品復雜的網(wǎng)絡(luò )結構。利用集成在Nanosurf控制軟件中的測量工具,可以方便地分析纖維的長(cháng)度和結的尺寸分布。與傳統的分析方法-掃描電鏡成像法SEM相比,金膜必須首先在真空中蒸發(fā)到 ePTFE 樣品上,使其導電才能進(jìn)行操作 - 用AFM 則快得多,也更容易執行。使用AFM,可以直接在ePTFE上測量,無(wú)需事先對樣品進(jìn)行處理。此外,與 SEM 數據相比,AFM 形貌圖實(shí)際上包含定量的深度信息。


AFM 力譜儀用于聚合物分析

裝有AFM的力譜儀可以對聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物進(jìn)行表征.數據分析或一組力距離曲線(xiàn)揭示了這兩種成分材料性能的差異。

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PS-PB聚合物樣品的不同區域的力-距離曲線(xiàn)。 頂部和底部面板分別顯示 PB(頂部)和 PS(底部)上記錄的力距離曲線(xiàn)。中圖中的形貌圖像中的箭頭指示記錄力距離曲線(xiàn)的位置。如頂圖所示,可以從力距離曲線(xiàn)中提取不同的信息:接觸區域的斜率、樣品壓痕、最大附著(zhù)力,以及分離所需的功。斜率本身是樣品剛度的粗略估計,即 PB 比 PS 軟得多,因為接觸區域的斜率較淺(參見(jiàn)紅色三角形)。使用接觸力學(xué)模型(如 DMT 模型)分析力距離曲線(xiàn)可顯示樣品的實(shí)際剛度。


掃描頭 
最大掃描范圍 / 掃描高度 (分辨率) (1)70 μm (1.0 nm) / 14 μm (0.2 nm)
靜態(tài) / 動(dòng)態(tài) RMS Z-噪音典型值 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 典型值 0.3 nm (最大 0.8 nm)
最大樣片尺寸 / 高度12 mm / 3.5 mm
最大樣片臺定位范圍最大每個(gè)方向12 mm (從中心到四面 6 mm )
頂視攝像頭3×3 mm FOV, 4× 數字變焦, 2 μm 光學(xué)分辨率, 2048×1536 像素, 軸內 LED 照明
側視圖觀(guān)察5×5 mm FOV, 可變 LED 照明(可選側視圖攝像頭: 2×2 mm FOV, 1280×1024 像素)
樣品趨近4 mm 線(xiàn)性馬達, 連續趨近或步進(jìn)
(1) 制造公差 ±10%


掃描頭尺寸




附加選項和組件

側視攝像頭

USB數碼側視攝像頭有1280 x 1024像素傳感器和2 x 2 mm 視野。此側視攝像頭裝在NaioAFM的頂部,在控制軟件上顯出側面視圖。 它可幫助用戶(hù)觀(guān)察在手動(dòng)或自動(dòng)趨近時(shí)微懸臂到樣片的距離。














防震隔離臺 300

用Nanosurf的防震隔離臺可實(shí)現無(wú)震動(dòng)干擾的測量




各種模式套件

  • 動(dòng)態(tài)力模式盒

  • EFM模式盒

  • 力調制模式盒

  • 相位成像模式盒

  • 標準光刻模式盒

  • 標準MFM 模式盒

  • 標準光譜模式盒

  • 靜態(tài)力模式盒

AFM 擴展樣片套件

AFM 擴展樣品套件包括10個(gè)不同學(xué)科的樣本以及樣品處理工具。該工具包附有一份詳細的手冊,既可支持課程開(kāi)發(fā),也可用作每次測量的課堂指南。


電話(huà):

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